A skenirajući elektronski mikroskop(SEM) je vrsta elektronskog mikroskopa koji se koristi za skeniranje mikrobnih površina, koji koristi pokretni elektronski snop niske energije za fokusiranje i skeniranje uzorka.
Razvoj elektronske mikroskopije pripisan je neučinkovitosti valnih duljina optičke mikroskopije. U usporedbi sa svjetlosnim mikroskopima, elektronski mikroskopi imaju kratke okomite valne duljine i stoga postižu bolju rezoluciju.
Principi pretražne elektronske mikroskopije
Za razliku od transmisijske elektronske mikroskopije, koja koristi propuštene elektrone, skenirajuća elektronska mikroskopija koristi emitirane elektrone.
Skenirajuća elektronska mikroskopija funkcionira primjenom kinetičke energije za proizvodnju signala o međudjelovanju elektrona. Ovi elektroni su sekundarni elektroni, povratno raspršeni elektroni i difraktirani povratno raspršeni elektroni, koji se koriste za promatranje kristalnih elemenata i fotona. Sekundarni elektroni i povratno raspršeni elektroni koriste se za proizvodnju slike. Sekundarni elektroni emitirani iz uzorka igraju glavnu ulogu u otkrivanju morfologije i topografije uzorka, dok povratno raspršeni elektroni pokazuju kontrast u elementarnom sastavu uzorka.
